ساخت میکروسکوپی تازه برای تصویربرداری دقیق از سطح در مقیاس نانو - وبلاگ ورامین

به گزارش وبلاگ ورامین، یک شرکت خارجی با ترکیب دو روش طیف سنجی و تصویربرداری اقدام به ساخت میکروسکوپی نموده است که می تواند از ویژگی های نانومقیاس سطح اطلاعات بسیار دقیقی ارائه کند.

به گزارش گروه دانشگاه وبلاگ ورامین، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود اطلاع داد. این فناوری ترکیبی از Dimension Icon® AFM و فناوری AFM-IR فتوترمال nanoIR™ برای ایجاد استاندارد های تازه در نقشه برداری از ویژگی های مواد شیمیایی با وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 نانومتر است.

این پلتفرم تازه که شامل حالت PeakForce Tapping® منحصر به فرد بروکر است، کامل ترین راهکار میکروسکوپی مرتبط را برای کمی سنجی نانوشیمیایی، نانومکانیکی و نانوالکتریک ارائه می دهد. در نهایت، IconIR انعطاف پذیری و کاربرد بیشتری را برای تحقق اهداف تحقیقاتی پیشگامانه در طیف وسیعی از کاربرد های حوزه پلیمر، زمین شناسی، نیمه هادی و علوم زیستی فراهم می نماید.

الکساندر دازی، استاد دانشگاه پاریس-ساکلی، و مخترع روش AFM-IR می گوید: برای اولین بار، IconIR مرا قادر می سازد تا طیف سنجی nanoIR و وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 نانومتر را با روش های نقشه برداری کَمّی پیشرفته ترکیب کنم. با این قابلیت های تازه، من می توانم به راحتی پلیمر را در مخلوطی از چند ماده با وضوح چند نانومتر تشخیص دهم. علاوه بر این، مود ضربه ای AFM-IR بسیار حساس و قوی است به طوری که اکنون می توانیم سیستم های پیچیده با ناهمگونی های مکانیکی بالا را مطالعه کنیم.

دین داوسون، مدیر بازرگانی بروکر می گوید: این پلتفرم تازه، فناوری nanoIR را به بخش های تازهی تعمیم می دهد که در حال حاضر با روش AFM-IR نمی توان وارد آن حوزه ها شد و کاربران را قادر می سازد تا مطالعات دقیق تری را برای درک بهتر ساختار و ترکیب مواد انجام دهند. در محصولات nanoIR سیستم Dimension IconIR با تکیه بر فناوری AFM-IR، ویژگی های نانومقیاس قابل مطالعه بوده و وضوح تصویربرداری شیمیایی را در حد 10 نانومتر می رساند.

Dimension IconIR ترکیبی از طیف سنجی IR و طیف سنجی میکروسکوپ روبشی (SPM) است که چندین دهه تحقیق و نوآوری برای ارائه حداکثر عملکرد و قابلیت در طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس را در بر می گیرد. در یک سیستم واحد، IconIR بالاترین عملکرد را برای طیف سنجی مادون قرمز در مقیاس نانو، وضوح تصویربرداری شیمیایی و حساسیت تک لایه ارائه می دهد.